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抗辐射设计与辐射效应

作者：沈自才//丁义刚 出版社：中国科学技术
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  • 出版社：中国科学技术
  • ISBN：9787504667380
  • 作者：沈自才//丁义刚
  • 页数：343
  • 出版日期：2015-05-01
  • 印刷日期：2015-05-01
  • 包装：平装
  • 开本：16开
  • 版次：1
  • 印次：1
  • 字数：540千字
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